Перейти к основному содержанию
  • Главная
  • Оборудование
  • В наличии
  • Информация
  • Контакты
Главная
+7 (911) 171-71-74

г. Санкт-Петербург, Салтыковская дорога, 18

Отправить запрос

  • РЭМ
    • AIS1800C
    • AIS2000C
    • AIS2300C
    • AIS2500C
    • AURA 100
    • Aura 200
  • Микроанализ
    • IDFix для количественного анализа ЭДС
    • IXRF система рентгеновского микроанализа
    • MaxView
    • QUANTAX. ЭДС - спектрометр
    • StrataGem
    • Детектор рентгеновский SiriusSD
  • Системы получения изображений
    • DISS 5 - активная система получения изображения
    • DISS 5 EBIC - для съёмки и обработки сигналов EBIC в РЭМ
    • DISS5 3D - 3D реконструкция систем
  • Электронные компоненты
  • Анализатор серы в нефти
  • Анализаторы размера
Главная / Полезная информация

Полезная информация

Сканирующий электронный микроскоп CamScan
ЛУЧШЕ, ЧЕМ ВЫ МОГЛИ СЕБЕ ПРЕДСТАВИТЬ!
Пример полученных снимков на микроанализаторах SX50, SX70 Cameca, JXA 733, 8600 JEOL
Микроанализаторы SX50, SX70 Cameca, JXA 733, 8600 JEOL

+7 (911) 171-71-74

г. Санкт-Петербург, Салтыковская дорога, 18

Copyright © 2002-2020 г. nanoimpeks.ru. Все права защищены.

Политика конфиденциальности