Стоимость: уточнить
Наличие: в наличии
В комплексе StrataGem реализована специальная методика определения плотности или толщин слоев покрытий и моделирования области генерации рентгеновского излучения в электронных микроскопах и микроанализаторах. Применяется в режимах on-line и off-line для элементного анализа и геометрии нанослоев до 5ти микрон. Неразрушающий метод, экспресс характеристика по 3-м спектрам EDS (при разном ускоряющем напряжении), отличается простотой использования. возможность анализа композитных слоев сэндвичевых структур.
StrataGem также оснащена широким выбором алгоритмов для эмуляции данных и может служить эффективным инструментом для обучения будущих специалистов по микроаализу.
Минимальная толщина слоя 10 нм, максимальная толщина определения характеристик до 5 микрон, в зависимости от элементного состава
Количество анализируемых слоев - до сотен (при соблюдении суммарной граничной толщины)
Применение стандартов - аналитическая методика требует применение стандартов. в качестве стандартов используются: слои известного состава и известной толщины или плотности.
Время обсчета данных с образца не превышает 5 сек.
